方阻測(cè)試儀

產(chǎn)品簡(jiǎn)介

Filmetrics R50 是KLA電阻測(cè)試家族的最新產(chǎn)品。R50方阻測(cè)試儀是KLA超45年電阻測(cè)量技術(shù)地位之作。電阻測(cè)量和監(jiān)控對(duì)于任何使用導(dǎo)電薄膜的行業(yè)都至關(guān)重要，從半導(dǎo)體制造到可穿戴技術(shù)所需的柔性電子產(chǎn)品。R50在金屬膜均勻性分布、離子摻雜和注入表征、薄膜厚度和電阻率分布、以及非接觸膜厚等量測(cè)均進(jìn)行了優(yōu)化加強(qiáng)。

產(chǎn)品型號(hào)：R-50

更新時(shí)間：2025-09-26

廠商性質(zhì)：代理商

訪問(wèn)量：4472

產(chǎn)品咨詢(xún) 13501903943

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產(chǎn)品分類(lèi)

電導(dǎo)率儀

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品牌	其他品牌	價(jià)格區(qū)間	面議
檢測(cè)參數(shù)	多參數(shù)	儀器種類(lèi)	臺(tái)式
應(yīng)用領(lǐng)域	電子/電池,航空航天,汽車(chē)及零部件,電氣,綜合

KLA薄膜電阻測(cè)量技術(shù)方阻測(cè)試儀包括接觸（4PP）和非接觸（EC）方法。

Filmetrics的R50系列方塊電阻測(cè)量?jī)x器可測(cè)量沉積在各種基材上的導(dǎo)電片和薄膜，跨越10個(gè)數(shù)量級(jí)范圍電阻率，包括：

-半導(dǎo)體晶圓基板

-玻璃基板

-塑料（柔性）基材

-PCB圖案特征

-太陽(yáng)能電池

-平板顯示層和圖案化特征

-金屬箔

二、方阻測(cè)試儀主要功能

l 技術(shù)規(guī)格

測(cè)量范圍：5m Ohm/sq - 5M Ohm/sq;

測(cè)量精度： +/- 1%；

重復(fù)度：小于 0.2%；

樣品圖中無(wú)*的測(cè)量點(diǎn)位，自定義測(cè)量Recipe，可線性、矩形、

極坐標(biāo)以及自定義等。

Model	Description
R50-4PP	四探針測(cè)試自動(dòng)XY移動(dòng)臺(tái)-100mm*100mm 可實(shí)現(xiàn)直接100mm晶圓方塊電阻mapping測(cè)量可放置直徑200mm晶圓樣品
R50-EC	非接觸渦流測(cè)試自動(dòng)XY移動(dòng)臺(tái)-100mm*100mm 可實(shí)現(xiàn)直接100mm晶圓方塊電阻mapping非接觸測(cè)量可放置直徑200mm晶圓樣品
R50-200-4PP	四探針測(cè)試自動(dòng)XY移動(dòng)臺(tái)-200mm*200mm 可實(shí)現(xiàn)直接200mm晶圓方塊電阻mapping測(cè)量
R50-200-EC	非接觸渦流測(cè)試自動(dòng)XY移動(dòng)臺(tái)-200mm*200mm 可實(shí)現(xiàn)直接200mm晶圓方塊電阻mapping非接觸測(cè)量